次の3種の分析試験を受諾できます

細孔径測定とSEM画像撮影

	SEM（走査電子顕微鏡）画像撮影
	価格および納期　：　お問い合わせください
	JEOL日本電子株式会社製　JSM-6010LVを使用しご希望の倍率で観察、画像の撮影を行います（乾燥物サンプルのみ。EDS分析には対応しておりません）。 低真空観察 = 繊維、ガラス、プラスチック等 高真空観察 = 金属、また非金属の場合コーティングしての観察となります。イオンコーティングの素材は金を使用していますので20000倍以上はあまり高精細な画像は撮影できませんが、パワーポイント等に貼り付ける用途でしたら十分な解像度が得られます(材質にもよります）

	ガス吸着法細孔分布測定
	価格および納期　:　お問い合わせください
	マイクロメリティクス社製TristerⅡ3020を使用し細孔分布、比表面積を測定します。 夏場は冷却用の液体窒素の消耗が激しいため割増料金になる場合があります。 使用するガス　：　窒素ガス　(アルゴンガス雰囲気下での測定も可能です) 測定範囲 : 15nm～0.4nm 吸着等温線 BET 表面積 t-プロット BJH吸着：積算細孔表面積 BJH脱着：細孔容積 等 データの内容についてはご相談ください。 データ形式はPDF、Excelの各形式に対応。テキストデータ(ASCII)での出力も可能です。 (グラフ、数値、どちらのデータもあります） 納期：サンプル受領後1週間～3週間（液体窒素の在庫及び測定するサンプル、数量により変化します

	水銀圧入法細孔分布測定
	価格　お問い合わせください
	マイクロメリティクス社製AutoPoreⅣ9500を使用し細孔分布を測定します(比表面積は測定できません)。 測定範囲　500μm～5.5nm 積算圧入容積　／　圧力 ログ微分圧入容積　／　細孔径 数表レポート　　　　 等々 データ形式はPDF、ASCII（テキストデータ）、Excelの各形式に対応 納期：サンプル受領後3日～２週間（水銀の在庫及び使用状況により変化します）